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可定性測試電容器漏電的實用電路設計

發布時間:2014-10-22 責任編輯:sherryyu

【導讀】電解電容器時間用長后就會出現漏電現象,但是我們很多時候不知道還能不能繼續使用,所以需要測量電容的漏電現象。這里分享一個技術行業通用的可定性測試電容器漏電的實用電路設計,幫大家來判斷電容還能不能使用。
 
電解電容器時間用長后就會出現漏電現象,附圖所示的電路能讓你測試電容器的漏電,并且決定它們是否值得使用,你可以通過CREF/RREF的比值抑制泄漏。
可定性測試電容器漏電的實用電路設計
附圖中的比值適用于從1納法的陶瓷電容器到1000微法的電解電容器等所有電容器的通用測試。電路中CREF的數值與待測電容器CX的數值相近,你也可以通過一個旋轉開關選擇RREF,使其大于或小于22MΩ。
 
工作原理
 
當按鈕開關合上時,電容器CREF和CX通過它們各自的PNP晶體管進行充電。當該開關斷開時,電容器CREF和CX開始放電。假定CREF處在良好狀態,它具有一個附加的放電外接電阻RREF,待測電容器CX通過其內部電阻放電。
 
如果CX的放電比CREF通過RREF的放電快,此時其電壓將下降較快,這樣,運算放大器的同向端輸入電壓將比其反向端輸入電壓低,迫使運算放大器的輸出變低,從而點亮紅色發光二極管。該發光二極管指明待測電容器CX漏電,該測試電路表明甚至一個1納法的陶瓷電容器都適應來比作參考,測試前請檢查待測電容器CX的標稱電壓應比其待充電電壓要高。
 
運算放大器LF357具有10V的最小電源電壓,本測試電路只選取6V電壓是為了容許待測電容器CX一個低的上限電壓。
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