【導讀】電源中一顆特定的二極管在經過裝置的機械跌落測試(drop test)后發(fā)生了短路故障，這種情況一而再地反復發(fā)生...機械沖擊似乎是引發(fā)故障的原因...
多年前，我曾經在一項射頻(RF)應用中使用了2N918晶體管。該晶體管采用TO-72大小的封裝，其中有4根導線，分別用于連接集電極、發(fā)射極、基極和晶體管的金屬罐。后來，由于在設計和繪圖時遇到了布局問題，因而想切斷連接晶體管金屬罐的導線。于是，我聯絡了供貨商詢問細節(jié)。
“不！千萬別那樣做喔！”供貨商回復說，切斷該導線連接可能導致機械脈沖進入裝置中，因而可能損壞半導體芯片。
切斷導線引發(fā)的機械脈沖可能損壞芯片。請先記住這個想法，稍后將會進一步討論。
最近，剛好有朋友來找我討論電源問題，他提到在電源中有一顆特定的二極管在經過該裝置的機械跌落測試(drop test)后發(fā)生了短路故障。由于這種情況一而再地反復發(fā)生。因此，多年前那個2N918晶體管問題的想法又重新浮現在腦海中。
由于機械沖擊似乎是引發(fā)故障的原因，我建議朋友先查查看二極管接線端子的連接是剛性還是軟性的。請參見圖 1。
圖 1：機械跌落測試的替代連接方法。
如果那根導線的堅硬度足以支撐聯合國(UN)大樓其中一翼，那么在跌落測試期間，它可能會傳遞機械脈沖至該二極管封裝中。接著，這些脈沖可能會被傳輸至無法承受這種損壞的半導體芯片本身。
我建議讓二極管保持靈活的連接，并進一步建議使用軟性編織物來取代剛性導線，即可實現這一目的。
有時這真的是最簡單的事。但從那時起，我就再也沒聽說過有關二極管故障的消息了。
(參考原文：The diode and the drop test，作者：John Dunn，編譯：Susan Hong)
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